正入射软X射线显微成像研究
摘要： 在国内率先研究了正入射X射线显微成像技术，并获得了优于lµm分辨率的正入射X射线显微成像系统，达到国际同等水平。
作者：陈星旦；曹健林；王占山；缪同群；翁志成
来源（出处）：不详
发表日期：1998
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